| Система сращивания пластин модели AWB-04 предназначена для выполнения совмещенного анодного, эвтекти https://atomstroy-ng.ru/avtomatizacyaochiski Среди полученных предложений производители чипов выбирают, с кем заключить контракт — кто более надёжный и у кого больше шансов добиться успеха на рынке, говорит Мэтт Мёрфи, исполнительный директор Marvell Technology https://atomstroy-ng.ru/ruchnyeultrazvuklinii Это серьёзное изменение психологического ландшафта в индустрии, где производители много лет работали с минимальной рентабельностью и с трудом сводили концы с концами https://atomstroy-ng.ru/ruchnayagalvanichliniya Теперь всё изменилось https://atomstroy-ng.ru/ustanovkadlyazadubleniya Стоимость некоторых микроконтроллеров выросла в 20 раз! Оборудование https://atomstroy-ng.ru/ruchnayagalvanichliniya Метрология тонких пленок (эллипсометрия и рефлектомерты) Измерение толщины и поверхностного сопротивления пленок SURAGUS 3D оптические профилометры SENSOFAR Системы измерения геометрии пластин и стресса Оптические микроскопы Оптические микроскопы Chongqing Optec Instrument (Китай) Сканирующие (растровые) электронные микроскопы JEOL Сканирующие (растровые) электронные микроскопы Emcrafts (Корея) Пробоподготовка для SEM и TEM микроскопии Зондовые станции от MS TECH Зондовые станции от SEMISHARE https://atomstroy-ng.ru/centrifuginaneseniyafotorezistera Метод: ионное утонение Кол-во ионных источников: 2 Диапазон рабочих энергий : от 100 эВ до 10,0 кэВ Диапазон регулируемых углов полировки: от – 15° до + 10° Завод Onsemi https://atomstroy-ng.ru/dopoborudovanie |
|
|
| Всего комментариев: 0 | |